X射線工業CT斷層掃描測量儀
簡要描述：
Werth將X射線(xian)掃描(miao)成像技術整合到三坐標測(ce)量(liang)系統，WERTH X射線(xian)工業CT斷層掃描(miao)測(ce)量(liang)儀可(ke)實(shi)現產品(pin)無(wu)損可(ke)視化準確(que)測(ce)量(liang)，并可(ke)選配光(guang)學、光(guang)纖、探(tan)針(zhen)、激(ji)光(guang)掃描(miao)等多種傳感(gan)器。對工件內外部所(suo)有結構尺寸(cun)全面(mian)的高精密測(ce)量(liang)，同時可(ke)實(shi)現工件材(cai)質的缺陷(xian)分析。
產品時(shi)間：2020-06-30
WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀介紹：
德國Werth公司是將X射線掃描成像(xiang)技術整合到三(san)坐標測(ce)量(liang)系統，實(shi)現產(chan)品(pin)無(wu)損可視化準(zhun)確測(ce)量(liang)，并(bing)可選配光(guang)(guang)(guang)學、光(guang)(guang)(guang)纖、探針、激光(guang)(guang)(guang)掃描等多種(zhong)傳(chuan)感器(qi)。對(dui)工(gong)(gong)件內(nei)外(wai)部所有結構(gou)尺寸全面的(de)高精密測(ce)量(liang)，同(tong)時可實(shi)現工(gong)(gong)件材(cai)質(zhi)(zhi)的(de)缺陷分析。可對(dui)塑料、陶瓷(ci)、復合材(cai)料、金屬等多種(zhong)材(cai)質(zhi)(zhi)制成的(de)產(chan)品(pin)進(jin)行無(wu)損尺寸測(ce)量(liang)和裝配評估等。壓縮測(ce)量(liang)周期的(de)同(tong)時，保證了高品(pin)質(zhi)(zhi)的(de)要(yao)求。Werth工(gong)業(ye)CT斷(duan)層掃(sao)描測量儀此(ci)機(ji)榮獲2005年度歐洲模具設計金獎(jiang)。
WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀特點：
◆ 將X射線斷(duan)層掃(sao)描成像技術整合到三(san)坐標測量系統，實現復雜部件(jian)高(gao)精度內外(wai)尺寸全面測量
◆ 可選配第二個Z軸，配置其(qi)他傳感(gan)器（光學、探 針、光纖、激(ji)光等(deng)）
◆ Werth公(gong)司(si)技(ji)術復合式傳感器(qi)技(ji)術，進一(yi)步保證 CT測量數據更準確
◆ 堅(jian)固的(de)花崗巖基座，保(bao)證機器具有高穩定性
◆ 高精密(mi)機(ji)械軸承技術及線性(xing)導軌系統(tong)，確(que)保實現zui 高精度的測量
◆ 無(wu)論從設計還是(shi)結構(gou)，測量機*并超(chao)出X射(she)線使(shi)用安全(quan)標準(zhun)
◆ 基于Werth公司優異的圖形處理及(ji)3D重構技術，測量速度(du)更快
◆ Werth公司技術的(de)X射線傳感器獨立校準系(xi)統
◆ Werth公(gong)司(si)技術(shu)的柵格(ge)斷層掃描技術(shu)：
精密(mi)測量微(wei)小部件(jian)
掃描更大(da)尺寸(cun)工(gong)件，提高分辨(bian)率(lv)
擴展測量范圍
◆ 測量(liang)軟(ruan)件可快速(su)3D重(zhong)構，也可進行(xing)2D測量(liang)
◆ 測(ce)量工件(jian)內部尺寸的同時(shi)，也可(ke)實現材質缺陷分(fen)析
◆ 選用廣泛應用的WinWerth軟件 (德國國家計量(liang)院PTB長度標(biao)準(zhun)認(ren)證) ，界面友(you)好，操作簡單
◆ 可使用zui擬合Bestfit及公(gong)(gong)差擬合Tolerancefit軟(ruan)件(jian)(jian)進(jin)行輪廓匹配分析及三維(wei)CAD工件(jian)(jian)公(gong)(gong)差比對
◆ 廣泛應用于復雜(za)尺寸測量，*評(ping)估，逆向工程，質量控制等
Werth工業CT斷層(ceng)掃描測量儀(yi)應用領域: 模具(ju)行(xing)業(ye)、逆向工(gong)程、汽車行(xing)業(ye)、航空航天、精密(mi)機械加工(gong)、船舶等。
WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀技(ji)術參數：
| 型 號 | TomoScope | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV |
| zui大測(ce)量工件尺寸(直徑) | 90mm | 90mm | 350mm | 350mm |
| zui大測量高度 | 200mm | 200mm | 350mm | 500mm |
| zui大允許誤差 (用(yong)CT傳感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| zui大允許(xu)誤差(E1:單軸(zhou)精(jing)度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
| (E2:平面精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
| (E3:空(kong)間精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| X射線源 | 130kV(150,190kV可選) | 130kV | 225kV | 225kV(450kV可選) |
| X射線探測器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 |
| X射(she)線探測器尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
| 分辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
| 定位速(su)度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
| 加(jia)速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
| 工(gong)作(zuo)臺承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
| 電源(yuan) | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
| 氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
| 儀(yi)器自重 | 3000kg | 6000kg | 8500kg | 11000kg |
1). 依據標(biao)準ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用(yong)TP200, WFP測(ce)量或CT傳感器選擇同等及(ji)更(geng)高(gao)精度(du)探(tan)針(zhen)修正或光(guang)學傳感器選用(yong)同等及(ji)更(geng)高(gao)精度(du)探(tan)針(zhen)修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
