工業CT斷層掃描測量機
簡要描述：
工業CT斷(duan)層掃描測量機(ji)可(ke)實現(xian)產品無(wu)損(sun)可(ke)視化準確測量，并可(ke)選(xuan)配光(guang)學、光(guang)纖、探針(zhen)、激光(guang)掃描等多(duo)種傳感器。對工件(jian)內(nei)外(wai)部所有結構尺寸全面的高精密測量，同時可(ke)實現(xian)工件(jian)材質(zhi)的缺(que)陷(xian)分析。可(ke)對塑料(liao)、陶瓷、復(fu)合材料(liao)、金屬等多(duo)種材質(zhi)制成的產品進(jin)行無(wu)損(sun)尺寸測量和裝配評估等。
產(chan)品時(shi)間：2020-03-12
Werth*家將X射線掃描(miao)成像技術整合到三坐標測量系(xi)統，工業CT斷層掃描測量機可實(shi)現產品無損(sun)可視化(hua)準確測量，并可選(xuan)配光學、光纖、探針、激光掃描等多(duo)種傳(chuan)感器。對(dui)工件內(nei)外(wai)部所有結構尺寸全面的(de)高精密(mi)測量，同時(shi)可實(shi)現工件材質(zhi)(zhi)的(de)缺陷分析。可對(dui)塑(su)料、陶瓷、復合材料、金屬等多(duo)種材質(zhi)(zhi)制(zhi)成(cheng)的(de)產品進行無損(sun)尺寸測量和裝(zhuang)配評估等。壓縮(suo)測量周期的(de)同時(shi)，保證了高品質(zhi)(zhi)的(de)要求。此工業CT斷層掃描測量機榮獲(huo)2005年度歐洲(zhou)模具設(she)計金獎(jiang)。
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主要(yao)特點：
◆ *家將X射線斷層掃描成像技術整合到三坐標測量系統，實現復雜部件高精(jing)度內外(wai)尺寸全(quan)面測量
◆ 可(ke)選配第二(er)個Z軸，配置其他傳感器（光學(xue)、探(tan) 針、光纖、激光等(deng)）
◆ Werth公(gong)司技術復合式傳感器技術，進一步保證 CT測量(liang)數據更準確
◆ 堅固(gu)的花崗巖(yan)基(ji)座，保證機器具有(you)高穩(wen)定性
◆ 高精密機械軸承技術及線性導軌系(xi)統(tong)，確保實現(xian)zui 高精度的(de)測量
◆ 無論(lun)從設計(ji)還(huan)是(shi)結(jie)構，測量(liang)機*并(bing)超(chao)出X射線(xian)使用(yong)安全標(biao)準
◆ 基于(yu)Werth公司(si)優(you)異的圖(tu)形處理及3D重(zhong)構技術，測量速度(du)更(geng)快(kuai)
◆ Werth公(gong)司(si)技(ji)術的X射線(xian)傳感器(qi)獨立校準系統
◆ Werth公(gong)司技術(shu)(shu)的柵格斷層掃(sao)描技術(shu)(shu)：
精密測(ce)量(liang)微小部件
掃描更大(da)尺寸工件，提高(gao)分辨率(lv)
擴展測量范圍
◆ 測(ce)量軟(ruan)件可快速3D重(zhong)構，也可進行2D測(ce)量
◆ 測量工件(jian)內部尺寸的(de)同時(shi)，也可實(shi)現(xian)材質(zhi)缺陷(xian)分析
◆ 選用廣(guang)泛應用的WinWerth軟件(jian) (德國(guo)國(guo)家(jia)計量院(yuan)PTB長度標準(zhun)認證) ，界(jie)面友好(hao)，操作簡(jian)單
◆ 可(ke)使用(yong)*擬合Bestfit及(ji)公差(cha)擬合Tolerancefit軟件(jian)進行輪廓匹(pi)配分析及(ji)三維CAD工件(jian)公差(cha)比對
◆ 廣(guang)泛應用于(yu)復雜(za)尺(chi)寸測量，*評估，逆向工程，質量控制等
應用領域: 模具(ju)行(xing)(xing)業(ye)(ye)、逆向工程、汽車行(xing)(xing)業(ye)(ye)、航(hang)空(kong)航(hang)天、精密機械加工、船舶等
技術參數：
型 號 | TomoScope HA | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV 500 |
zui大(da)測量工件尺(chi)寸(cun)(直徑) | 90mm | 90/200/200mm | 180/350mm | 360/500mm |
zui大測量高度(du) | 285mm | 240/360/400mm | 180/520mm | 380/700mm |
zui大允許誤差(cha) (用(yong)CT傳感器(qi)) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
zui大允許誤(wu)差(E1:單(dan)軸精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
(E2:平面精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
(E3:空間(jian)精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
X射(she)線源可選 | 130/150/190kV | 130/150/190/225kV | 225/300/320kV | 225/300/320/450kV |
X射線探(tan)測器像素(su) | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 | 2048x2048 |
X射(she)線探測器尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
分辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
定(ding)位速度(du) | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加(jia)速度(du) | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工作臺承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
儀器自重 | 3000kg | 6000kg | 11000kg | 13000kg |
1). 依據標準(zhun)ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測(ce)量(liang)或(huo)CT傳感器選擇同等(deng)及更(geng)高(gao)精(jing)度(du)探針修正或(huo)光(guang)學傳感器選用同等(deng)及更(geng)高(gao)精(jing)度(du)探針修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
X射線穿透(tou)能力：
Werth獨有(you)的用于高(gao)(gao)精度、高(gao)(gao)分(fen)辨率測量的穿透型(xing)標靶射線源。此標靶在高(gao)(gao)管電壓（如300KV）和大管電流的情況下(xia)能夠長時間穩定(ding)地保持微米級的焦(jiao)點尺寸，這樣就能用微米級焦(jiao)點的X射線快速的高精度(du)(du)、高分辨(bian)率進行測量高密(mi)度(du)(du)（如(ru)鋼）較大尺寸(cun)的零件。
高精度(du)工業CT的復(fu)合(he)測(ce)量，特(te)別是在金屬、陶瓷(ci)、復(fu)合(he)材料的測(ce)量具有(you)很大的優(you)勢(shi)，我們也(ye)可提供付(fu)費(fei)測(ce)量服務，具體(ti)可咨詢(xun)我們銷(xiao)售。
應用實例：
